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我国科学家揭示铁电材料失效机制：提出氮空位拓扑稳定调控方案，铁电存储器循环寿命突破 100 亿次
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我国科学家揭示铁电材料失效机制：提出氮空位拓扑稳定调控方案，铁电存储器循环寿命突破 100 亿次 - IT之家
研究团队在原子尺度追踪缺陷演化，明确了氮空位导致器件失效的路径，提出缺陷调控方案，实现超 100 亿次循环耐久性，相关成果已发《Science》。#铁电材料技术突破#
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